站在实战的角度，化二谈ESD的容性耦合的可能性 - 技术文章

最近，有不少论文中，谈及ESD干扰机理有“近场的容性耦合”说法，理论是完美的，但是可能与实践存在差异，化二认为寄生耦合的可能性是很微小的，理由如下：
无论是干扰发生容性耦合C*du/dt，必须满足条件如下:
1)源必须是高阻抗，才能产生高电压;ESD枪有330欧电阻不假，但是ESD放电是瞬间变为大电流脉冲，电压已消失;
2)干扰必须是高频，实际中，10MHz以上，ESD满足要求（上升沿为1ns）;
3)被干扰对象必须是高阻抗，容性耦合的是电流，仅在高阻抗接受电路上，才产生一定幅度电压;
4)容性耦合，必然有大的寄生电容，PCB的大面积GND、Vcc与机壳，长信号线与大地，均存在这个可能性;5)ESD泄放路径，如果不是金属板或存在缝隙、孔洞等，ESD就会通过附近pcb、线缆走，也就是容性耦合为主。
因此，实战性EMC行家，对付ESD就四五招:
A）低阻抗的“泄"到大地（减小ESL或压降），通过大面积金属机壳接地、信号线并联电容（降低接受源的阻抗）等手段，避免或减少ESD的容性耦合;
B)减少信号线环路，尤其PCB走线的回流面积，减少电磁的感性耦合，这一点极其重要;
C)pcb地平面的完整性，让容性耦合的ESD电流，不会有过大压降，形成共阻抗干扰;
D)浮空的、一定长度的I/O引脚，高阻抗，最好的接收天线。当然，对付ESD最好的方法是防止静电累积，防止它放电(绝缘)_。

化二，理论性不强，但实践认识较多，这种认识也许是表象，欢迎大家补充与拍砖！

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